This is a Demo Server. Data inside this system is only for test purpose.

Patentler

Permanent URI for this collectionhttp://65.108.157.135:4000/handle/123456789/18

Browse

Browsing Patentler by Author "Ayav, Tolga"

Filter results by typing the first few letters
Now showing 1 - 1 of 1
  • Thumbnail Image
    Patent
    MC/DC testlerinin önceliklendirilmesine ilişkin bir yöntem
    (Türk Patent Enstitüsü, 2021-05-21) Ayav, Tolga; Ayav, Tolga; Izmir Institute of Technology; Bilgisayar Mühendisliği Bölümü
    Buluş, MC/DC (Modified Condition/Decision Coverage) testi, DO-178 standardınca önerilen ve A seviyesinde kritik yazılımların geliştirme sürecinde kullanılan bir test yöntemi ile ilgilidir.