This is a Demo Server. Data inside this system is only for test purpose.
 

A comparative study of thin-film coated silicon wafer surfaces for laser-induced breakdown spectroscopic analysis of liquids

dc.contributor.advisor Yalçın, Şerife Hanım en_US
dc.contributor.author Aras, Nadir en_US
dc.date.accessioned 2023-11-16T12:14:28Z
dc.date.available 2023-11-16T12:14:28Z
dc.date.issued 2021-07 en_US
dc.description Thesis (Doctoral)--Izmir Institute of Technology, Chemistry, Izmir, 2021 en_US
dc.description Includes bibliographical references (leaves: 94-98) en_US
dc.description Text in English; Abstract: Turkish and English en_US
dc.description.abstract Laser-Induced Breakdown Spectroscopy, LIBS, is a relatively new atomic emission spectroscopic technique that shows rapid growth due to its many special peculiarities, like its ability to provide spectral signatures of all chemical species at the same time, in all environments of solid, liquid, or gas. Liquid sample analysis by LIBS is more troublesome compared to analysis of solids. Therefore, liquid analysis by LIBS requires some pretreatment steps to be applied before direct analysis of the samples. In the literature, a variety of approaches has been successfully applied and there is still plenty of room to improve methodologies used in the liquid-LIBS analysis. The main purpose of this thesis study was to perform studies for the development of a LIBS-TARGET for sampling liquids on it, after drying, by repetitive laser pulses. With this purpose, silicon wafer-based substrates with differing surface compositions; uncoated (crystalline silicon, c-Si), oxide-coated silicon, SiO2, and nitride coated silicon, Si3N4, were tested for several experimental parameters. Within the content of this study, a fast and accurate methodology for direct analysis of aqueous samples by LIBS is proposed. This methodology has two important attributes: one is the use of the non-metal substrate, silicon wafer, for the first time for direct analysis of aqueous samples dried on, and two is the use of high energy laser pulses focused outside the minimum focal point of a plano-convex lens at which relatively large laser beam spot covers the entire droplet area for plasma formation. Si-wafer-based substrates were used for both qualitative and quantitative analysis of Cd, Cr, Cu, Mn, and Pb elements, and analytical figures of merit were determined. The analytical performance of each substrate was evaluated from the experiments performed with aqueous standards and real water samples. Silicon nitride-coated substrate has shown superior properties in terms of enhancing the LIBS signal and as low as 11 pg detection limits for Pb were obtained. en_US
dc.description.abstract Lazer Oluşturmalı Plazma Spektroskopisi, LIBS, tüm kimyasal türlerin spektral analizini aynı anda ve katı, sıvı, ya da gaz gibi tüm fiziksel formlarında gerçekleştirebilme kapasitesi gibi birçok özel özelliği nedeniyle büyük bir ilgi gören, diğer tekniklere göre nispeten yeni bir atomik emisyon spektroskopisi tekniğidir. LIBS tekniği ile sıvı örneklerin analizi, katı örneklerin analizine göre daha zordur. Bu nedenle, LIBS ile sıvı örneklerin analizlerinin öncesinde bazı ön işlemlerin gerçekleştirlmesi gerekmektedir. Bu amaç doğrultusunda literatürde çeşitli uygulamalar başarı ile uygulanmış olmakla birlikte, sıvı örneklerin LIBS ile analizleri için kullanılan metotların yeterliliklerini geliştirebilmek için daha çok çalışmaya ihtiyaç duyulmaktadır. Bu tez çalışmasının temel amacı, üzerindeki sıvı damlaların kurutulduktan sonra lazer pulsları ile analizleri için bir LIBS-platform geliştirilmesine yönelik çalışmaların yapılmasına dayanmaktadır. Bu amaç doğrultusunda, farklı yüzey kompozisyonlarına sahip silikon gofret bazlı substratlar; kaplamasız (kristal silikon, c-Si), oksit kaplı silikon (SiO2), ve nitrür kaplı silikon (Si3N4), çeşitli deneysel parametreler altında test edilmiştir. Bu çalışmalar kapsamında, sıvı örneklerin LIBS ile doğrudan analizi için hızlı ve doğru bir yöntem sunulmaktadır. Bu metot iki önemli özelliğe sahiptir; birincisi sıvı örneklerin LIBS ile direkt analizi için ilk kez silikon gofretin kullanımı ve ikincisi ise plazma oluşumu için odaklayıcı lensin minimum odak noktası dışına yerleştirilmesi ile tüm damla alanını nispeten daha büyük çaptaki, yüksek enerjili lazer ışınlarınının kullanılmasıdır. Cd, Cr, Cu, Mn, ve Pb elementlerinin hem kalitatif hem de kantitatif analizleri için silikon gofret bazlı substratlar kullanıldı ve bu tekniğin analitik başarım ölçüsü belirlendi. Her bir substratın performansı, sulu standart çözeltiler ve gerçek su örnekleri kullanılarak gerçekleştirilen deneylerin sonuçlarına göre değerlendirildi. Silikon nitrür kaplı substrat, LIBS sinyallerinin iyileştirilmesi açısından daha iyi sonuçlar göstemiştir ve Pb için 11 pg kadar düşük tayin sınırı elde edilmiştir. en_US
dc.format.extent xii, 99 leaves en_US
dc.identifier.uri http://standard-demo.gcris.com/handle/123456789/6411
dc.language.iso en en_US
dc.publisher Izmir Institute of Technology en_US
dc.rights info:eu-repo/semantics/openAccess en_US
dc.subject Silicon wafers en_US
dc.subject Laser-induced breakdown spectroscopy en_US
dc.subject Liquid analysis en_US
dc.subject Thin films en_US
dc.title A comparative study of thin-film coated silicon wafer surfaces for laser-induced breakdown spectroscopic analysis of liquids en_US
dc.title.alternative Lazer oluşturmalı plazma spektroskopisi ile sıvı analizleri için ince filn kaplı silikon gofret yüzeylerin karşılaştırmalı bir çalışması en_US
dc.type Doctoral Thesis en_US
dspace.entity.type Publication
gdc.author.id 0000-0002-1754-6224 en_US
gdc.description.department Chemistry en_US
gdc.description.publicationcategory Tez en_US

Files

Collections